葉面積指數(shù)測定方法（葉面積指數(shù)儀）

在農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中，葉面積指數(shù)是植物生產(chǎn)力的一個重要參數(shù)，很多農(nóng)業(yè)種植工作人員都會通過對葉面積指數(shù)的測定來對植物進(jìn)行合理的農(nóng)事作業(yè)。葉面積指數(shù)的測定方法有很多種，可分為直接測量和間接測量，不過在這些測定方法中，目前市場上應(yīng)用比較廣泛的就是使用葉面積指數(shù)測定儀來測定，本文就和大家簡單介紹一下葉面積指數(shù)測定儀儀及其他葉面積指數(shù)測定方法。

托普云農(nóng)*300葉面積指數(shù)測定儀采用上一致采用的原理（比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理），通過魚眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像，利用軟件對所得圖像和數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算，得出冠層相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。具有準(zhǔn)確、省時省力、快捷方便的特點(diǎn)。具體地葉面積指數(shù)測定可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等。

當(dāng)然除了以上所介紹的使用葉面積指數(shù)測定儀來測定葉面積指數(shù)之外，還有其他測定方法，具體如下：

1、點(diǎn)接觸法：點(diǎn)接觸法是用細(xì)探針以不同的高度角和方位角刺入冠層，然后記錄細(xì)探針從冠層頂部到達(dá)底部的過程中針尖所接觸的葉片數(shù)目。

　　2、消光系數(shù)法：該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)相關(guān)的參數(shù)來計算葉面積指數(shù)。

　　3、經(jīng)驗(yàn)公式法：經(jīng)驗(yàn)公式法利用植物的胸徑、樹高、邊材面積、冠幅等容易測量的參數(shù)與葉面積或葉面積指數(shù)的相關(guān)關(guān)系建立經(jīng)驗(yàn)公式來計算。

　　4、遙感方法：衛(wèi)星遙感方法為大范圍研究LA I提供了有效的途徑。主要有2種遙感方法可用來估算葉面積指數(shù)，一種是統(tǒng)計模型法。另一種是光學(xué)模型法。

　　5、光學(xué)儀器法：光學(xué)儀器法按測量原理分為基于輻射測量的方法和基于圖像測量的方法。zs